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同“芯”合力 聯(lián)動發(fā)展|大族顯視與半導體出席“第二屆第三代半導體材料及裝備研討會”


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 由第三代半導體產業(yè)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟舉辦的“第二屆第三代半導體材料及裝備發(fā)展研討會”于9月5日在北京召開。本屆大會為推進形成“材料、工藝、裝備一體化”的創(chuàng)新機制與發(fā)展,邀請了產業(yè)鏈上下游專家共同出席研討。大族顯視與半導體受邀出席并發(fā)表演講《激光技術在第三代半導體領域的應用》。

 現階段以SiC、GaN為主的第三代半導體材料,因具備高頻高功率、耐高壓、耐高溫、抗輻射等性能,被廣泛應用于5G通訊、新能源汽車等領域;但同時由于SiC材料具有硬度高、生長成本昂貴、加工損耗大,GaN材料易于崩裂等特性,使得傳統(tǒng)機械加工方案在加工效果及生產成本上都無法滿足市場需求。為解決上述材料問題,大族顯視與半導體多年來不斷攻關,為第三代半導體材料的應用提供專業(yè)加工解決方案。

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SiC激光內部改質切割技術

 激光內部改質切割技術是通過將激光光束聚焦在材料的內部,在材料內部形成改質區(qū)域及裂紋區(qū),以實現材料的切割。在加工過程中可抑制材料碎屑的產生,做到擴膜后無雙晶、切割直線度在5μm以內,崩邊小于10μm的效果,量產良率高達99.5%以上。除此以外,此技術還適用于氮化鎵、硅MEMS、鉭酸鋰、砷化鎵,藍寶石等多種材料。

 大族顯視與半導體針對背金層的粘連、晶圓表面金屬或有機物鍍層的崩裂、切割道過窄而遮擋激光等不良現象,自主研發(fā)出專利技術并可提供有效的激光解決方案。

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激光內部改質切割SiC晶圓

SiC激光退火技術

 激光退火技術是利用激光瞬間高溫、熱傳導深度淺的特性,來實現SiC襯底與金屬層間的歐姆接觸。大族顯視與半導體SiC晶圓激光退火設備采用了自主研發(fā)光束整形技術,相比于普通光斑,光斑能量分布更均勻,能有效避免光斑中心能量過高而造成的材料局部損傷,僅需要較小的光斑重疊率,就可獲得均勻的退火效果,從而提高退火效率。

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激光退火技術加工薄片SiC晶圓

 設備可兼容4/6 Inch,支持超薄片退火,比電阻接觸≤10^-6Ωcm2,Process Chamber含氧量<10ppm,非退火面溫度<120攝氏度,采用模塊化設計,可擴展到其他材料工藝應用領域。該技術還可應用于注入離子后的晶格修復與雜質的激活活化,處理外延薄膜材料的結晶化。

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激光退火前后的伏安特性曲線

激光開槽技術

 傳統(tǒng)刀輪切割在對表面具有GaN/Low-K材料的半導體晶圓進行切割分片時,極易在GaN/Low-k層產生崩邊、卷翹和剝落等不良現象,而采用非接觸式的激光加工方案則可以有效避免上述問題。

 大族顯視與半導體的激光開槽設備加工形成的形貌整體均勻、槽底十分平滑、粗糙度低于500nm,開槽側壁的熱影響區(qū)控制在3μm以內。

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         槽型良好                                                      槽底平整                                                     熱影響區(qū)小

 在第三代半導體領域,大族顯視與半導體的多種激光技術始終走在國內前沿,除了上述解決方案,還可為第三代半導體產業(yè)鏈提供硅MEMS激光切割、全自動IC打標、激光解鍵合、刀輪切割、FT測試分選、TGV、IC卷盤封裝等技術方案。

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 據悉,國家計劃把大力支持發(fā)展第三代半導體產業(yè)寫入正在制定中的“十四五”計劃中。未來在利好的政策環(huán)境下,大族顯視與半導體結合雄厚的激光技術實力,聯(lián)合第三代半導體產業(yè)鏈上下游企業(yè)共同開發(fā)驗證,為第三代半導體產業(yè)提供創(chuàng)新的激光技術解決方案,努力實現國產化自給自足的目標!

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